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Visit Hitex Deve­lop­ment Tools at booth num­ber 2207!

ESC Sili­con Val­ley
April 26–29, 2010
McE­nery Con­ven­tion Cen­ter
San Jose, CA

Auf der embed­ded world 2010 wurde Hitex mit dem ange­se­he­nen embed­ded AWARD aus­ge­zeich­net. Mit die­ser Spit­zen­prä­mie­rung für beson­ders inno­va­tive Pro­dukte war Hitex bereits im Jahr 2008 gewür­digt wor­den und ist somit das erste Unter­neh­men, das sich nun schon zum 2. Mal den embed­ded AWARD in der Kate­go­rie „Tools“ sichern konnte.

Prä­miert wurde Power­S­cale, ein neu­ar­ti­ges Ent­wick­lung­werk­zeug zur Redu­zie­rung des Ener­gie­ver­brauchs in Embed­ded Sys­te­men. Mit Power­S­cale lässt sich die Soft­ware von Embed­ded Sys­te­men in Bezug auf den Leis­tungs­ver­brauch opti­mie­ren. Hier­für nutzt Power­S­cale die neu­ar­tige ACM-Technologie (ACM = Active Cur­rent Mea­su­re­ment), die es ermög­licht, den Leis­tungs­ver­brauch in Rela­tion zum abge­ar­bei­te­ten Pro­gramm zu ermit­teln. Mit Power­S­cale kön­nen Strom­ver­brauch und Span­nung an bis zu 4 Power Domains par­al­lel gemes­sen wer­den. Hier­bei erlaubt die ACM-Technologie eine feh­ler­freie Mes­sung für große Strom­be­rei­che von 200 nA bis 1 A. Durch eine zusätz­li­che Kopp­lung an den Mikro­con­trol­ler lässt sich ein Bezug die­ser Mes­sun­gen zu aus­ge­wähl­ten Ereig­nis­sen der Appli­ka­tion her­stel­len. Nur so ist es mög­lich, die Soft­ware auf spar­samste Energie-Nutzung in den ver­schie­de­nen Berei­chen der Hard­ware zu optimieren.

Dank intel­li­gen­ter Aus­wer­te­me­tho­den lässt sich nicht nur der Ver­brauch des Embed­ded Sys­tems opti­mie­ren, son­dern es kann auch gleich eine Mini­mie­rung der Strom­ver­sor­gung erzielt wer­den. Das macht Power­S­cale opti­mal für künf­tige Her­aus­for­de­run­gen an den Energieverbrauch.

The latest ver­sion of Tessy is now avail­able on the Hitex web.

HCC –Embed­ded (Ver­trieb Hitex) unter­stützt ab sofort die ATMEL AVR32 Micro­con­trol­ler mit den HCC Pro­duk­ten embe­ded USB OTG, Host und Device Stacks sowie die File Sys­teme FAT, SafeFAT und Safe­Flash sowie den HCC SafeFTL Flash Trans­la­tion Layer. Por­tie­run­gen mit Stan­dard Tool­chains und Standard-AVR Eval­boards sind als ges­teste Pro­jekte ver­füg­bar. HCC embed­ded Pro­dukte sind ein­setz­bar mit vie­len RTOS Sys­te­men, TCP/IP Stack und wei­te­ren embed­ded Kom­po­nen­ten.
High per­for­mance Trei­ber für SDIO Inter­face sowie für die  NAND Flash­con­trol­ler des AVR ergän­zen das HCC Port­fo­lio. Mit dem SafeFTL steht ein Flash Trans­la­tion Layer zur Ver­fü­gung, mit dem effi­zi­ent und sta­bil bis zu vier Ter­ra­byte NAND-Flash ange­schlos­sen an den AVR bedient wer­den kön­nen.
Hitex ist Ihr kom­pe­ten­ter Ansprech­part­ner zur Rea­li­sie­rung von Neu­pro­jek­ten basie­rend auf den Atmel AVR32 Micro­con­trol­lern.
Mehr Infor­ma­tio­nen erhal­ten sie hier:
peter.donde@hitex.de

Das Werk­zeug RiskCAT (Ver­trieb: Hitex) bie­tet in der neuen Ver­sion 6.1 wesent­li­che Funk­ti­ons­er­wei­te­run­gen sowie die Unter­stüt­zung bei der Anwen­dung von ISO 26262 (Draft Inter­na­tio­nal Standard).

Bei­spiels­weise gibt es in RiskCAT für ISO 26262 einen Ver­gleich zu IEC 61508 nach unter­schied­li­chen Kri­te­rien. So zeigt RiskCAT alle Maß­nah­men an, die sinn­ge­mäß in bei­den Nor­men vor­kom­men, jedoch unter­schied­lich aus­ge­drückt sind. Hier­bei erkennt man mit Hilfe von RiskCAT leicht, dass die „Fagan Inspec­tion“ aus IEC 61508 (Tabelle B.8) zu „Inspec­tion of the soft­ware unit design“ in ISO 26262 (Teil 6, Tabelle 11) kor­re­spon­diert. Diese Infor­ma­tion würde ohne RiskCAT mühe­vol­les und zeit­auf­wen­di­ges Stu­dium der Nor­men erfor­dern, wohin­ge­gen RiskCAT die betref­fen­den Aus­züge aus den Nor­men direkt gegenüberstellt.

Wei­ter­hin kann nun ange­zeigt wer­den, wel­che Unter­schiede sich bei der Ver­bind­lich­keit von Maß­nah­men durch unter­schied­li­che ASIL („Auto­mo­tive Safety Inte­grity Level“) erge­ben. So ist leicht erkenn­bar, dass es zum Bei­spiel im Bereich der Veri­fi­ka­tion der Soft­ware­ent­wick­lung nur eine Maß­nahme gibt, die auf ASIL C stär­ker gefor­dert wird als auf ASIL B. Dabei han­delt es sich um Hardware-in-the-loop-Tests, die auf ASIL B als „recom­men­ded“ und auf ASIL C als „highly recom­men­ded“ ein­ge­stuft sind (Teil 6, Tabelle 18).

RiskCAT 26262 erlaubt die Bestim­mung des ASIL für ein Pro­dukt und gibt für jede mög­li­che Maß­nahme in ISO 26262 an, wie zwin­gend ihre Anwen­dung bei einem bestimm­ten ASIL ist.

Ergo­no­misch wurde RiskCAT auf­ge­frischt; beson­ders deut­lich wird dies durch die nun­mehr aus­schließ­lich waag­rechte Anord­nung der But­tons für die The­men­ge­biete. RiskCAT erlaubt, Maß­nah­men mit Noti­zen zu ver­se­hen, Maß­nah­men zur Anwen­dung aus­zu­wäh­len und aus­ge­wählte Maß­nah­men in Check­lis­ten zusam­men­zu­stel­len, die dann als Arbeits­grund­la­gen die­nen kön­nen. RiskCAT kann zu einer Maß­nahme den genauen Norm­text oder die Erläu­te­run­gen zu einer Maß­nahme im Norm­text anzei­gen. Der dazu not­wen­dige Norm­text ist im Lie­fer­um­fang von RiskCAT enthalten.

RiskCAT gibt es außer für ISO 26262 auch für IEC 61508, ISO 13849, DIN EN 50128 / IEC 62279, DIN EN 50129 / IEC 62425 und IEC 61511. Fer­ner kön­nen Anbin­dun­gen von RiskCAT an Artis­an­Stu­dio™, DOORS® und Cali­ber™ zusätz­lich erwor­ben werden.

RiskCAT ist bei Hitex Deve­lop­ment Tools GmbH erhältlich.

Wei­tere Infor­ma­tio­nen: http://www.hitex.de/perm/riskcat.html

Hitex bie­tet vol­len Debug­sup­port für die ARM Cortex-M3-basierte EFM32-Gecko-Familie, die von Energy Micro als welt­weit ener­gie­ef­fi­zi­en­teste Mikro­con­trol­ler vor­ge­stellt wurden.

Der kom­pakte JTAG-Debugger „Tan­tino for Cor­tex“ unter­stützt das vom EFM32 ange­bo­tene 2-pin Serial Wire Debug (SWD) und stellt die kom­plette Run-Control-Funktionalität wie Bre­ak­points, Watch­points und Single-Step zur Ver­fü­gung. Wie alle Hitex-Tools läuft auch der Tan­tino unter der uni­ver­sel­len Ent­wick­lungs­um­ge­bung HiTOP, wodurch Flash-Programmierung, Update on Run­ning und der Excep­tion Assis­tant bereit­ge­stellt wer­den. Durch die Serial-Wire-Viewer-Funktionalität von Cor­tex sind erwei­terte Debug­mög­lich­kei­ten wie Daten­trace, Semi­hos­ting und Performance-Analyse-Funktionalität verfügbar.

Dank offe­ner Schnitt­stel­len las­sen sich in HiTOP auch zusätz­li­che Tools pro­blem­los inte­grie­ren, wie z.B. der opti­mal ange­passte GNU Cor­tex Com­pi­ler. Ergänzt wird das Ange­bot mit RTOS-Support und mit por­ta­blen Protokoll-Stacks, die eben­falls auf Cor­tex abge­stimmt sind.

HCC –Embed­ded (Ver­trieb Hitex) unter­stützt ab sofort die Texas Instru­ments Stel­la­ris Micro­con­trol­ler mit den HCC Pro­duk­ten embe­ded USB OTG, Host und Device Stacks sowie die File Sys­teme FAT, SafeFAT und Safe­Flash sowie den HCC SafeFTL Flash Trans­la­tion Layer. Por­tie­run­gen mit Stan­dard Tool­chains und Standard-Stellaris Eval­boards sind als ges­teste Pro­jekte ver­füg­bar. HCC embed­ded Pro­dukte sind ein­setz­bar mit vie­len RTOS Sys­te­men, TCP/IP Stack und wei­te­ren embed­ded Kom­po­nen­ten.
Hitex ist Ihr kom­pe­ten­ter Ansprech­part­ner zur Rea­li­sie­rung von Neu­pro­jek­ten basie­rend auf den Texas Instru­ments Stel­la­ris Micro­con­trol­lern.
Mehr Infor­ma­tio­nen erhal­ten sie hier:
peter.donde@hitex.de

Die neu­este Ver­sion von Tessy, einem Werk­zeug zum auto­ma­ti­sier­ten Unit-/Modul– und Integrations-Test von ein­ge­bet­te­ter Soft­ware, ent­hält als wich­tigste neue Eigen­schaft den „tem­po­ra­len Kom­po­nen­ten­test“. Die­ser erlaubt meh­rere Test­ob­jekte inte­griert zu tes­ten. Unter Umstän­den kann dies sogar in einer Zeit­si­mu­la­tion erfol­gen, des­halb die Bezeich­nung „temporal“.

Wei­ter­hin erlau­ben ver­schie­dene Opti­mie­run­gen, bes­ser mit einer hohen Anzahl von Test­fäl­len umzu­ge­hen und stei­gern die Leis­tung des Werk­zeugs. Wei­tere Ver­bes­se­run­gen betref­fen Erwei­te­run­gen der Code-Überdeckungsmessung, die nicht-interaktive Bedie­nung und die Ver­si­ons­kon­trolle von Tests. Tessy wird von Hitex Deve­lop­ment Tools vertrieben.

Hitex Deve­lop­ment Tools hat für NXP Semi­con­duc­tors erfolg­reich ein Pro­jekt zur Ein­hal­tung der Norm IEC 60335 für elek­tri­sche Geräte durchgeführt.

Hier­bei ging es um die Ent­wick­lung einer Soft­ware­bi­blio­thek inkl. Test­durch­füh­rung, Doku­men­ta­tion und allen Schrit­ten zur Erlan­gung der Vorab-Zertifizierung. Dadurch kann NXP eine Test­bi­blio­thek gemäß IEC 60335 Klasse B für die gesamte ARM Cortex-M3-basierte LPC1000-Mikrocontrollerfamilie zur Ver­fü­gung stel­len. Diese Biblio­thek wurde vom VDE (Ver­band der Elek­tro­tech­nik, Elek­tro­nik, Infor­ma­ti­ons­tech­nik e.V.) geprüft und ermög­licht eine Endprodukt-Abnahme ohne voll­stän­dig neue Prü­fung der Appli­ka­tion durch den VDE. Die erfor­der­li­che Ent­wick­lungs­ar­beit, die Test­durch­füh­rung und die Zer­ti­fi­zie­rungs­schritte wur­den voll­stän­dig von Hitex durchgeführt.

“Wir freuen uns sehr, dass wir mit Hitex als Exper­ten auf dem Gebiet der Embed­ded Ent­wick­lung arbei­ten kön­nen,” sagte Geoff Lees, Vice Pre­si­dent and Gene­ral Mana­ger, Micro­con­trol­ler Pro­duct Line, NXP Semi­con­duc­tors. “Durch diese Koope­ra­tion ist es uns mög­lich, unse­ren Kun­den eine IEC 60335 Klasse B Test­bi­blio­thek zur Ver­fü­gung zu stel­len, wodurch sich die Time-to-Market für Haus­halts­ge­räte und andere sicher­heits­kri­ti­sche Appli­ka­tio­nen mit dem Ein­satz unse­rer Cortex-M3 LPC1000-Mikrocontrollerfamilie ver­kür­zen lässt.”

Mit der Abwick­lung die­ses Pro­jekts für NXP konnte Hitex seine Kom­pe­tenz für eine rasche Test­durch­füh­rung in Überein­stim­mung mit Stan­dards und Nor­men unter­mau­ern. Diese Dienst­leis­tung bie­tet Hitex auch für Ent­wick­ler von Klasse-B-Produkten an, um eine Zer­ti­fi­zie­rung der Pro­dukte zu erreichen.

Wei­tere Infos unter www.hitex.de

Hitex als Anbie­ter von Dienst­lei­tun­gen im embed­ded Markt hat für NXP die Ent­wick­lung einer Soft­ware­bi­blio­thek inkl. Test­durch­füh­rung, Doku­men­ta­tion und allen Schrit­ten zur Erlan­gung der Vorab-Zertifizierung durch­ge­führt. Dadurch kann NXP eine Test­bi­blio­thek gemäß IEC 60335 Klasse B für die gesamte ARM Cortex-M3-basierte LPC1000-Mikrocontrollerfamilie zur Ver­fü­gung stel­len. Diese Biblio­thek wurde vom VDE (Ver­band der Elek­tro­tech­nik, Elek­tro­nik, Infor­ma­ti­ons­tech­nik e.V.) geprüft und ermög­licht eine Endprodukt-Abnahme ohne voll­stän­dig neue Prü­fung der Appli­ka­tion durch den VDE. Die erfor­der­li­che Ent­wick­lungs­ar­beit, die Test­durch­füh­rung und die Zer­ti­fi­zie­rungs­schritte wur­den voll­stän­dig von Hitex durch­ge­führt. Dies doku­men­tiert ein­mal mehr die ver­stärkte Aus­rich­tung von Hitex als qua­li­fi­zier­ter Dienst­leis­ter für embed­ded Appli­ka­tio­nen neben dem bekann­ten Too­l­an­ge­bot und Midd­le­ware für viele aktu­elle Architekturen.

» Wei­tere Infor­ma­tio­nen über die Hitex Dienstleistungsangebote