Tessy qualified!

Filed Under (News, Produkte, Tessy) by Buechner on 02-01-2012

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Tessy is qualified to be used in safety-related software development according to IEC 61508 and ISO 26262.
More information and the certificate from TÜV SÜD: http://www.hitex.com/index.php?id=3308&L=0

Statische Code-Analyse mit Goanna verbessert Software-Qualität

Filed Under (News) by Fuller on 02-01-2012

Hitex vertreibt ab sofort Goanna, ein Werkzeug zur fortgeschrittenen statischen Code-Analyse für in C/C++ geschriebene Programme.

Goanna nutzt Modellprüfung, interprozedurale Analyse und abstrakte Datenwertverfolgung, um durch tiefgreifende statische Analyse Fehler in der Software aufzuzeigen. Das Tool findet Speicherlecks, Pufferüberläufe, Zerstörung von Speicherinhalten etc. und führt dabei die Analyse auch über Dateigrenzen hinweg aus.
Da Goanna einfach zu installieren ist, kann der Anwender bereits nach wenigen Minuten beginnen, die Qualität der vorhandenen Software zu überprüfen und gegebenenfalls zu verbessern.

Goanna gibt es als Kommandozeilenversion (Goanna Central) und als Version für die IDEs VisualStudio und Eclipse/CDT (Goanna Studio). Unterstützt wird Windows sowie Linux. Goanna wird sowohl als rechnergebundene wie auch als Floating-Lizenz angeboten und ist ab sofort erhältlich.

>> Weitere Informationen zu Goanna

SafetyDay am 8. Februar 2012 in Hannover

Filed Under (News) by Fuller on 08-12-2011

SafetyDay: Funktionale Sicherheit
Informieren Sie sich ausführlich über funktionale Sicherheit in Ihrem Embedded Projekt: IEC 61508, ISO 26262, ASIL, SIL und Zertifizierung – alles über Tools und deren Anwendung. Zusätzlich stellen wir Ihnen Dienstleistungen rund um das Thema funktionale Sicherheit vor – alles an einem Tag!

Wer sollte teilnehmen?
Der SafetyDay ist besonders interessant für alle, die in ihrem Unternehmen für funktionale Sicherheit zuständig sind, also für Entwickler und Projektleiter von sicherheitskritischen Projekten. Und natürlich für alle, die an Sicherheit und Zuverlässigkeit interessiert sind.

SafetyDay kompakt

  •     Termin: 8.2.2012, 9.30 – 17.00 Uhr
  •     Registrierung der Teilnehmer ab 9:00 Uhr
  •     Ort: Hannover
  •     Sprache: Deutsch
  •     Teilnahmegebühr: 295,00 EUR
  •     >> Mehr Infos zur Agenda
  •     >> Zur Anmeldung

 

Tessy V2.9.47 resp. V2.9.747 available

Filed Under (News, Produkte, Tessy) by Buechner on 23-11-2011

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The latest version of Tessy, a tool for unit and integration testing of embedded software, is available for download from http://www.hitex.de/tessy (registration required).

Neue Termine: Softwaretest, Seminar & Training

Filed Under (News) by Fuller on 02-11-2011

Hitex bietet ein komplettes Schulungsprogramm für das Thema Softwarequalität mit dem Schwerpunkt “Modul-/Unit-Test” an: Bestehend aus drei Elemente, die auch einzeln buchbar sind.

Einführungsseminar mit folgenden Inhalten:

  • Gebräuchliche Fachbegriffe bei Software-Tests
  • Maße der Codeüberdeckung
  • Einführung in Unit-Tests
  • Klassifikationsbaummethode
  • Weiterführende Unit-Tests
  • Intergrationstest
  • Support, Training und Beratung, Diskussion.

Training und Seminar an zwei Tagen (Tag 1 auch einzeln buchbar):
Vertiefung und praktische Übungen mit eigenem Laptop

  • Testdatenbank selbständig einrichten
  • Module hinzuzufügen
  • Funktionen testen
  • Testergebnisse zu sichern
  • Sichere Anwendung der Funktionen von Tessy
  • Entscheidungskompetenz hinsichtlich der Auswahl der Testmethodik

Die nächsten Termine:

Einführungsseminar:
Dienstag, 15.11.2011 in Karlsruhe
Dienstag. 29.11.2011 in Köln

Softwaretest-Tage in Karlsruhe:
17.1.2012: Einführungsseminar
18.1. + 19.1.2012: Tessy-Training

Infos & Anmeldung

Informationen zum Testwerkzeug Tessy

Cortex™-M3/M4 Seminarreihe mit Keil µVision

Filed Under (News) by Fuller on 31-10-2011

Einführung in die ARM-Cortex-M3/M4 Mikrocontroller Familie. Die Fortsetzung unserer erfolgreichen Ein-Tages-Seminare in Karlsruhe am 29.11. und 13.12.2011.
Alles Wissenswerte zur Architektur M3/M4: Unterschiede (Floating Point, DSP), theoretische Grundlagen und praktische Übungen!
Die Teilnehmer bekommen ein Keil Evaluierungsboard, einen ULINK2 JTAG Adapter, MDK-ARM mit Lizenz für 30 Tage ab Seminarbeginn, einen Insider’s Guide STM32 in gebundener Form und eine CD-ROM mit Seminarunterlagen und Keil Beispielen.

Weitere Informationen und Anmeldung hier!

Tessy V2.9.46 resp. V2.9.746 available

Filed Under (News, Produkte, Tessy) by Buechner on 11-10-2011

The latest version of Tessy, a tool for unit and integration testing of embedded software, is available. Tessy now features improved ASAP2 support and is able to incorporate external hardware in testing.

The latest version is available for download from http://www.hitex.de/tessy (registration required).

Messmethoden zur Energieprofil-Analyse in Embedded-Applikationen

Filed Under (News) by Donde on 18-07-2011

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Embedded-Software und Energieverbrauch
In der Vergangenheit war es für den Softwareentwickler von untergeordneter Bedeutung die Software stromsparend auszulegen. Allenfalls bei der Entwicklung von batteriebetriebenen Geräten war der Stromverbrauch ein wesentlicher Parameter. Aber auch hier war eigentlich mehr der Hardwareentwickler gefordert, die beste Optimierung des Engergieverbrauchs zu realisieren. Diese Situation hat sich grundlegend geändert, seit Systeme wie PowerScale oder das “Power Debugging” als Zusatz-Feature in der Entwicklungsumgebung angeboten werden.

Software energie-effizient entwickeln
Wenn diese Anforderung an den Software-Entwickler herangetragen wird, muss zunächst einmal der herkömmliche Entwicklungsprozess betrachtet werden. Und die Frage, wo energierelevanten Elemente zu finden sind, die bereits bei der Softwareentwicklung beeinflussbar sind, bekommt dabei einen höheren Stellenwert. Zunächst wird der Entwickler nach einem Mikrocontroller suchen, der den Anforderungen an seine Applikation in bezug auf Performance, Speichervolumen sowie zu bedienender Peripherien genügt bzw. als am besten geeignet erscheint. Es wird Ihm auch relativ leicht fallen, diese Auswahl bezüglich des Energieverbrauchs des Controllers zu lösen, da zwischenzeitlich alle namhaften Chiphersteller dieser Anforderung bereits beim Design des Microcontrollers Rechnung getragen haben: diverse Sleep- Modi bis hin zum Power-Down des Controllers stehen zur Verfügung.

Ist dann die erste Hardware verfügbar, kommt die Stunde der Wahrheit: werden die Parameter in Hinsicht auf den Leistungsverbrauches des Mikrocontrollers auch eingehalten? Und noch spannender ist die Frage, wie sieht die Energiebilanz der gesamten Applikation aus, da z. B. PLL-Frequenz, An- und Abschaltzeiten der Peripherie sowie das Interruptmanagement in den Engegieverbrauch eingehen?!

Neue Möglichkeiten der Energieeffienz-Messung und -Optimierung
Zu diesem Thema finden sich aktuell – wie schon erwähnt – zwei Lösungsansätze: zum einen über das sogenannte “Power Debugging” als Bestandteil der Entwicklungsumgebung oder der PowerScale von Hitex, eine Stand-alone Lösung, die universell eingesetzt werden kann.

Power Debugging
Das Power Debugging ist konkret an eine bestimmte Entwicklungsumgebung gebunden und hat einen anderen Ansatz gewählt. Wie der Name bereits zum Ausdruck bringt, wird der verwendete Debugger als Hardware eingesetzt. Dies impliziert allerdings, dass die Debugger-Hardware konfigurationbedingt, bereits einen Einfluss auf die Strommessung hat. Ausserdem wird in Bezug auf die realisierbare Taktrate nur eine maximale Sample-Rate von 50 kHz erreicht. (PowerScale erreicht mit einer angeschlossen Probe ist die max. Sample-Rate 100 K Sample/sec). Power Debugging ist ausschließlich mit Cortex-Controllern möglich, da deren Serial Wire Viewer genutzt werden kann um Daten (z.B aktueller PC, Interrupts) zu senden. Hierdurch wird eine Korrelation zur Anwendersoftware hergestellt. Diese Korrelation ist aber beim Daten-Sampling mit dem PC sehr ungenau, so dass schnelle Softwareaktivitäten nicht erkannt werden können. Auch die Zuordnung von Energieverbrauch zu bestimmten Funktionen – beim PC-Sampling heißt das “Profiling” – ist nicht unbedingt dazu geeignet herauszufinden, welche Softwareaktivitäten (Veränderung der PLL, Zugriff auf externen Bus, Aktivierung oder Deaktivierung des ADC, etc.) zu Veränderungen des Energiekonsums führen.

Das PowerScale Konzept
Grundgerät plus Probes zum Anschluss an die Zielhardware, großer Messbereich von 200 nA bis 500 mA, einfachste Adaption, eine GUI zur grafischen Darstellung der Messergebnisse und eine offene API. So sieht die architekturunabhängige Messung und Optimierung der Energiebilanz von Embedded Applikationen mit PowerScale aus! Ein Konzept übrigens, das als erstes seiner Art auf den Markt kam und gleich den Embedded Award 2010 in der Kategorie “Tools” gewinnen konnte. Aber ein Hardware-Tool ausgerechnet für den Software Entwickler, der bekanntermaßen zunächst einmal eine gewisse Zurückhaltung zeigt, wenn es um Tools geht, die auch ein Stück Hardware beinhalten? Doch zwischenzeitlich sind diese Ressentiments überwunden: Entwickler die PowerScale einsetzen berichten nur Positives. Und so freuen wir uns über die beste Werbung, die man sich als Hersteller vorstellen kann, nämlich die Aussagen zufriedener Kunden: “Einfaches Handling bei der Hardware Adaptierung”, “schnelle und effiziente Messungen und Darstellung über eine übersichtliche GUI”, “… die Möglichkeit von Langzeitmessungen haben die Optimierung unserer Applikation bzgl. des Engergieprofils in kürzester Zeit ermöglicht”. PowerScale ist, wir erwähnten das bereits, architekturunabhänig einsetzbar und bietet mit einer offenen API die Möglichkeit der Integration in unterschiedlichste  Entwicklungsumgebungen – und ist somit nicht von der verwendeten Compilerversion abhängig.

Mit PowerScale wurde eine unabhängige Lösung implementiert, die auch für alle anderen Mikrocontroller bis hin zu FPGAs oder Peripherals genutzt werden kann. Zur realen Strommessung werden alle Verfälschungen wie Debugger oder Serial Wire Viewer abgeschaltet. Nur zur Optimierung der Software werden diese Dinge zugelassen und hier werden Software-Events genutzt, die auch bei anderen Mikrocontrollern zur Verfügung stehen (IO, UART, SWV). Hitex ist dabei mit verschiedenen Chipherstellern in ständigem Kontakt, um die Universalität des Systems zu erhalten und weiter zu entwickeln.

Ein weiterer Vorteil ist die niedrigste zu messende Stromstärke. Das PowerScale System kann Werte ab 200 nA (ohne Rauschen) messen. Und durch die ACM-Probe (Advanced Current Measurement) kann ein Messbereich von 200 nA bis 500 mA mit nur einer Probe abgedeckt werden.

PowerScale in der Keil µVision Entwicklungsumgebung
Keil hat das Interesse an Engergiemessung- und Optimierung insbesondere bei Cortex-M basierenden Embedded Applikationen erkannt und gemeinsam mit Hitex eine Anbindung von PowerScale mit ULINKpro in µVision realisiert. Dies eröffnet allen Keil MDK-ARM Usern die komfortable Möglichkeit ihren Code sehr zügig im Hinblick auf die Energieeffizienz zu optimieren.

Welche System ist für die Optimierung des Energieverbrauchs am besten geeignet?
Die Antwort sollte sich der Entwickler nach Studium der aufgezeigten Möglichkeiten eigentlich selbst geben können: Unabhänig von der eingesetzten Architektur und damit universell verwendbar, könnte z. B. als Entscheidungskriterium für PowerScale sprechen. Hierfür ist allerdings eine Investition erforderlich. Bei Verwendung der Keil MDK-ARM, die bei Cortex-M einen relativ grossen Marktanteil repräsentiert, bietet die PowerScale-Anbindung ein geschlossenes und getestetes System an. Kommt bei Kunden eine Standard Entwicklungsumgebung zur Anwendung, die Power-Debugging als Feature beinhaltet und ausschliesslich Cortex-M basierende MCU’s evaluiert werden sollen, dann kann die Entscheidung auch für das “Power-Debugging” fallen.

Hitex erhält erneut den begehrten Embedded Award!

Filed Under (News) by Fuller on 22-03-2011

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Auf der Embedded World 2011 in Nürnberg erhielt Hitex erneut den Embedded Award. Dieses Mal in der Kategorie “Software” für das SafeTkit, eine kompakte und professionelle Einstiegslösung für die Zertifizierung von TriCore-Anwendungen.

Und das sagte die Jury:

„Hitex hat Trendthemen im Embedded-Bereich frühzeitig aufgegriffen und in wegweisende Konzepte umgesetzt“, erklärt Prof. Dr.-Ing. Matthias Sturm, Vorsitzender des Fachbeirates der embedded world Exhibition&Conference. „Das Unternehmen konnte mit seinem neuartigen Safety-Konzept die Fachjury auch in diesem Jahr von seiner herausragenden Kompetenz überzeugen. Ich freue mich, dass ich den Entwicklern bei Hitex nun schon zum dritten Mal den begehrten Embedded AWARD überreichen durfte. Offensichtlich finden sie in ihrem Unternehmen ein Umfeld, dass offen ist für die Umsetzung innovativer und wegweisender Ideen.“

Der diesjährige Award ist übrigens der dritte, den Hitex erhält. Preisträger zuvor waren der STM32-PerformanceStick im Jahre 2008 und letztes Jahr der PowerScale (beide in der Kategorie “Tools”).

>> Mehr Informationen zum SafeTkit finden Sie hier!

I2C-StickTM – Kompakter USB-I²C Host Adapter

Filed Under (News) by Donde on 16-02-2011

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Dieser im USB-Stick Format ausgeführte I²C Host Adapter ermöglicht die schnelle und kostengünstige Analyse der I²C Bus Daten.
Senden, empfangen und auswerten der I²C Bus Daten sind im Plug and Play Modus über den PC möglich.
Eine umfangreiche, ergänzende Software Library bietet einen quasi universellen Einsatz für viele I²C Projekte.
Einsetzbar unter Windows x86 (32-bit) und x64 (64-bit), Windows XP, Vista und Windows 7.

Produktübersicht:

• Kompakter I²C Host Adapter im USB Stick Format
• 7-bit Slave Adressierung, 100 kHz und 400 kHz Taktfrequenz
• Master und Slave, Sende- Empfangs- und Multi-Master Unterstützung
• Versorgung über I²C Bus (Schaltbare interne Pull Up Widerstände) und 5 V für externe I²C Systeme
• Kompatibel mit 3,3 V bis 5 V über externe Pull Up Widerstände
• iBurner I²C Bus EEPROM Programmier Software
• Utility Pack für Windows: Message Manager und Message Center Software für Datenerfasung,
Konfiguration und Analyse
• Free.NET Class Libary, ASCI-Text Application Programm Interface und Beispiel Projekte
• Visual Basic, C, C++ and MFC (Microsoft Foundation Class) Beispiel Projekte
• LabVIEW Virtuell Instrument (VI) Library und Beispiel Projekte
• Intergrierter Überspannungsschutz (ESD) und zweistufiger Sicherungsschutz

Mit dem I2C StickTM wird eine hochwertige, flexible und kostengünstige I²C Busanalyse ermöglicht.
Neben der 7-bit Slave Adressierung wird die Multi-Master Funktionalität unterstützt und Arbitration Loss detektiert.
Die mitgelieferten Beispielprojekte sind zielgerichtet und eröffnen schnelle und effiziente Wege bei der Entwicklung von I²C Applikationen.
Der i2cStick wird in einer Ausführung mit Kabelclips zur direkten Kontaktierung des I²C Buses (MIIC-207-MC) angeboten.
Rückwärtskompatibilität zu iPort/USB und iPort/AFM sowie iPort/AI ist gegeben.

I2C Stick online kaufen!

I2C bei Hitex im Web!

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