Embedded BlogNews aus der embedded Welt

A new tutorial about the handling of floating point values in Tessy was released on the Hitex web site.

This tutorial describes how Tessy can handle floating point values, e.g. how deviations from the expected result can be accepted and how graphics can be displayed. A lot of other topics are also mentioned:
( a ) Export/import of test data from/to Excel sheets
( b ) Tessy attributes and environments
( c ) test data generation.

To read the tutorial, click here.

Viele Chiphersteller haben bereits ‘Power-saving’ Massnahmen ‘on-chip’ implementiert. Dies hat bereits dazu geführt, dass besonders bei batteriebetriebenen Geräten Optimierungen bzgl. Energieverbrauch und damit zur Betriebsdauererweiterung geführt haben.
Aber auch ein sehr sparsamer Microcontroller verbraucht Energie und sollte nur dann aktiviert werden, wenn er tatsächlich benötigt wird.
Um die vom Microcontroller bereits angebotenen Möglichkeiten, wie aufwecken aus dem Schlafzustand bzw. auch Aufwachen aus RESET tatsächlich optimal zu nutzen bereits während der Softwareentwicklung, genau da setzt das Produkt ‘PowerScale‘ an, dass von Hitex entwickelt und als Seriengerät angeboten wird.

PowerScale besteht aus einem inteligentem Basisgerät, an das bis zu vier Probes angeschlossen werden können. Spannungs- und Strommessung erfolgt über die ACM Probe (Active Current Measurement)  parallel und das in einem Bereich von 200nA bis 500mA, wobei über den gesamten Messbereich der Spannungabfall immer weniger als 100mV ist. Dies wird durch eine intelligente  autom. Umschaltung der Shunts gewährleistet.
Die Korrelation zwischen Spannung, Strom- und Leistungsmessung wird über
In- und Out Pins gesteuert. Die direkte Verbindung zum Microcontroller erlaubt die Zuordnung von bis zu vier verschiedenen  Softwareereignissen. (z.B. Speicherlesen, Frequenzumschaltung, etc.). Über eine serielle Schnittstelle können ‘Events’ generiert werden und durch Einbindung eines Makros numeriert und im Trace angezeigt werden.
Durch  Zuordnung verschiedener Ereignisse und bei unterschiedlichen Controllern kann PowerScale kontinuierlich zur Optimierung bereits im Softwareentwicklungsprozess gezielt beitragen.

PowerScale Details

Hitex stellt mit HiTOP 5.40 die neueste Version seines universellen Software-Debuggers vor, der jetzt auch Window 7 32/64 Bit vollständig unterstützt.

Außerdem enthält HiTOP 5.40 wesentliche Funktionserweiterungen für das Debuginterface „Tantino for Cortex“. Hierzu zählen Cortex-M0-Support für LPC1100 sowie Support für die STM32 Value Line und für EFM32 Energy Micro. Auch die Serial-Wire-Viewer-Funktionalität wurde durch einen verbesserten grafischen Data-Viewer und einen Exception Trace weiter ausgebaut.

HiTOP 5.40 ist verfügbar für die Debuglösungen für ARM, Cortex, XC2000/XE166, XC800 sowie TriCore mit seinen neuesten Derivaten.

Auf der embedded world 2010 wurde Hitex mit dem angesehenen embedded AWARD ausgezeichnet. Mit dieser Spitzenprämierung für besonders innovative Produkte war Hitex bereits im Jahr 2008 gewürdigt worden und ist somit das erste Unternehmen, das sich nun schon zum 2. Mal den embedded AWARD in der Kategorie „Tools“ sichern konnte.

Prämiert wurde PowerScale, ein neuartiges Entwicklungwerkzeug zur Reduzierung des Energieverbrauchs in Embedded Systemen. Mit PowerScale lässt sich die Software von Embedded Systemen in Bezug auf den Leistungsverbrauch optimieren. Hierfür nutzt PowerScale die neuartige ACM-Technologie (ACM = Active Current Measurement), die es ermöglicht, den Leistungsverbrauch in Relation zum abgearbeiteten Programm zu ermitteln. Mit PowerScale können Stromverbrauch und Spannung an bis zu 4 Power Domains parallel gemessen werden. Hierbei erlaubt die ACM-Technologie eine fehlerfreie Messung für große Strombereiche von 200 nA bis 1 A. Durch eine zusätzliche Kopplung an den Mikrocontroller lässt sich ein Bezug dieser Messungen zu ausgewählten Ereignissen der Applikation herstellen. Nur so ist es möglich, die Software auf sparsamste Energie-Nutzung in den verschiedenen Bereichen der Hardware zu optimieren.

Dank intelligenter Auswertemethoden lässt sich nicht nur der Verbrauch des Embedded Systems optimieren, sondern es kann auch gleich eine Minimierung der Stromversorgung erzielt werden. Das macht PowerScale optimal für künftige Herausforderungen an den Energieverbrauch.

The latest version of Tessy is now available on the Hitex web.

Das Werkzeug RiskCAT (Vertrieb: Hitex) bietet in der neuen Version 6.1 wesentliche Funktionserweiterungen sowie die Unterstützung bei der Anwendung von ISO 26262 (Draft International Standard).

Beispielsweise gibt es in RiskCAT für ISO 26262 einen Vergleich zu IEC 61508 nach unterschiedlichen Kriterien. So zeigt RiskCAT alle Maßnahmen an, die sinngemäß in beiden Normen vorkommen, jedoch unterschiedlich ausgedrückt sind. Hierbei erkennt man mit Hilfe von RiskCAT leicht, dass die „Fagan Inspection“ aus IEC 61508 (Tabelle B.8) zu „Inspection of the software unit design“ in ISO 26262 (Teil 6, Tabelle 11) korrespondiert. Diese Information würde ohne RiskCAT mühevolles und zeitaufwendiges Studium der Normen erfordern, wohingegen RiskCAT die betreffenden Auszüge aus den Normen direkt gegenüberstellt.

Weiterhin kann nun angezeigt werden, welche Unterschiede sich bei der Verbindlichkeit von Maßnahmen durch unterschiedliche ASIL („Automotive Safety Integrity Level“) ergeben. So ist leicht erkennbar, dass es zum Beispiel im Bereich der Verifikation der Softwareentwicklung nur eine Maßnahme gibt, die auf ASIL C stärker gefordert wird als auf ASIL B. Dabei handelt es sich um Hardware-in-the-loop-Tests, die auf ASIL B als „recommended“ und auf ASIL C als „highly recommended“ eingestuft sind (Teil 6, Tabelle 18).

RiskCAT 26262 erlaubt die Bestimmung des ASIL für ein Produkt und gibt für jede mögliche Maßnahme in ISO 26262 an, wie zwingend ihre Anwendung bei einem bestimmten ASIL ist.

Ergonomisch wurde RiskCAT aufgefrischt; besonders deutlich wird dies durch die nunmehr ausschließlich waagrechte Anordnung der Buttons für die Themengebiete. RiskCAT erlaubt, Maßnahmen mit Notizen zu versehen, Maßnahmen zur Anwendung auszuwählen und ausgewählte Maßnahmen in Checklisten zusammenzustellen, die dann als Arbeitsgrundlagen dienen können. RiskCAT kann zu einer Maßnahme den genauen Normtext oder die Erläuterungen zu einer Maßnahme im Normtext anzeigen. Der dazu notwendige Normtext ist im Lieferumfang von RiskCAT enthalten.

RiskCAT gibt es außer für ISO 26262 auch für IEC 61508, ISO 13849, DIN EN 50128 / IEC 62279, DIN EN 50129 / IEC 62425 und IEC 61511. Ferner können Anbindungen von RiskCAT an ArtisanStudio™, DOORS® und Caliber™ zusätzlich erworben werden.

RiskCAT ist bei Hitex Development Tools GmbH erhältlich.

Weitere Informationen: http://www.hitex.de/perm/riskcat.html

Hitex bietet vollen Debugsupport für die ARM Cortex-M3-basierte EFM32-Gecko-Familie, die von Energy Micro als weltweit energieeffizienteste Mikrocontroller vorgestellt wurden.

Der kompakte JTAG-Debugger „Tantino for Cortex“ unterstützt das vom EFM32 angebotene 2-pin Serial Wire Debug (SWD) und stellt die komplette Run-Control-Funktionalität wie Breakpoints, Watchpoints und Single-Step zur Verfügung. Wie alle Hitex-Tools läuft auch der Tantino unter der universellen Entwicklungsumgebung HiTOP, wodurch Flash-Programmierung, Update on Running und der Exception Assistant bereitgestellt werden. Durch die Serial-Wire-Viewer-Funktionalität von Cortex sind erweiterte Debugmöglichkeiten wie Datentrace, Semihosting und Performance-Analyse-Funktionalität verfügbar.

Dank offener Schnittstellen lassen sich in HiTOP auch zusätzliche Tools problemlos integrieren, wie z.B. der optimal angepasste GNU Cortex Compiler. Ergänzt wird das Angebot mit RTOS-Support und mit portablen Protokoll-Stacks, die ebenfalls auf Cortex abgestimmt sind.

Die neueste Version von Tessy, einem Werkzeug zum automatisierten Unit-/Modul- und Integrations-Test von eingebetteter Software, enthält als wichtigste neue Eigenschaft den „temporalen Komponententest“. Dieser erlaubt mehrere Testobjekte integriert zu testen. Unter Umständen kann dies sogar in einer Zeitsimulation erfolgen, deshalb die Bezeichnung „temporal“.

Weiterhin erlauben verschiedene Optimierungen, besser mit einer hohen Anzahl von Testfällen umzugehen und steigern die Leistung des Werkzeugs. Weitere Verbesserungen betreffen Erweiterungen der Code-Überdeckungsmessung, die nicht-interaktive Bedienung und die Versionskontrolle von Tests. Tessy wird von Hitex Development Tools vertrieben.

Hitex Development Tools hat für NXP Semiconductors erfolgreich ein Projekt zur Einhaltung der Norm IEC 60335 für elektrische Geräte durchgeführt.

Hierbei ging es um die Entwicklung einer Softwarebibliothek inkl. Testdurchführung, Dokumentation und allen Schritten zur Erlangung der Vorab-Zertifizierung. Dadurch kann NXP eine Testbibliothek gemäß IEC 60335 Klasse B für die gesamte ARM Cortex-M3-basierte LPC1000-Mikrocontrollerfamilie zur Verfügung stellen. Diese Bibliothek wurde vom VDE (Verband der Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik e.V.) geprüft und ermöglicht eine Endprodukt-Abnahme ohne vollständig neue Prüfung der Applikation durch den VDE. Die erforderliche Entwicklungsarbeit, die Testdurchführung und die Zertifizierungsschritte wurden vollständig von Hitex durchgeführt.

“Wir freuen uns sehr, dass wir mit Hitex als Experten auf dem Gebiet der Embedded Entwicklung arbeiten können,” sagte Geoff Lees, Vice President and General Manager, Microcontroller Product Line, NXP Semiconductors. “Durch diese Kooperation ist es uns möglich, unseren Kunden eine IEC 60335 Klasse B Testbibliothek zur Verfügung zu stellen, wodurch sich die Time-to-Market für Haushaltsgeräte und andere sicherheitskritische Applikationen mit dem Einsatz unserer Cortex-M3 LPC1000-Mikrocontrollerfamilie verkürzen lässt.”

Mit der Abwicklung dieses Projekts für NXP konnte Hitex seine Kompetenz für eine rasche Testdurchführung in Übereinstimmung mit Standards und Normen untermauern. Diese Dienstleistung bietet Hitex auch für Entwickler von Klasse-B-Produkten an, um eine Zertifizierung der Produkte zu erreichen.

Weitere Infos unter www.hitex.de

New in the Tessy Support Area from Hitex is a paper called “Rules for Testing With Tessy and CTE”. This This paper tries to give some advice on how to make use of Tessy and CTE, e.g. how to name test cases reasonably or how to structure classification trees. Such rules are useful if you want to ensure that a greater group of testers use a uniform testing style.

Go to the support area for Tessy (password required)

On Tuesday, February 2nd, 2010, an intro­duc­tive semi­nar on unit / module / inte­gra­tion tes­ting using Tessy will take place at the Hitex’ faci­li­ties in Karls­ruhe, Germany.

The semi­nar is free-of-charge for Tessy users under maintenance.

Semi­nar lan­guage is German.

More infor­ma­tion and registration.

Since some time, Tessy V2.9 is available for productive use. The current version is V2.9.19. It is available for download from the here.

The latest version of Tessy V2.6 is Tessy V2.6.30